GD2000型繼電保護(hù)試驗箱制造、試驗和驗收除了應(yīng)滿足本技術(shù)要求外，還應(yīng)符合如下標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.1—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.4—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB/T2423.5—95 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊

GB/T2423.10—95 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）

GB6162—85 靜態(tài)繼電器及繼電保護(hù)裝置的電氣干擾試驗

GB6592—86 電子測量儀器誤差的一般規(guī)定

GB7261—87 繼電器及繼電保護(hù)裝置基本試驗方法

GB/T14598.3—93 電氣繼電器第5部分：電氣繼電器的絕緣試驗

GB/T14598.9—95 電氣繼電器第22部分第3篇：輻射電磁場干擾試驗

DL478—92 靜態(tài)繼電保護(hù)及安全自動裝置通用技術(shù)條件

DL/T553—94 220~550kV電力系統(tǒng)故障動態(tài)記錄技術(shù)準(zhǔn)則

ANSI/IEEE C37.111—1991 暫態(tài)數(shù)據(jù)式（IEEE Standard Common Format forTransient Ex-change）

DL/T 624-1997微機繼電保護(hù)裝置通用技術(shù)條件